SE-VM光譜橢偏儀

簡要描述：產品簡介：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數、透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。

高精度橢偏測量解決方案；超高精度、快速無損測量；支持多角度、微光斑、可視化調平系統功能模塊靈活定制；豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力

產品型號：
廠商性質：生產廠家
更新時間：2019-02-15
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產品分類CLASSIFICATION

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價格區間	面議	產地類別	國產

產品型號	SE-VM光譜橢偏儀
主要特點	1、采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm) 2、高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現Psi/Delta光譜數據高速采集 3、支持系列配置靈活，可根據不同應用場景支持多功能模塊化定制 4、數百種材料數據庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料
技術參數	1、自動化程度：手動變角 2、應用定位：通用型 3、基本功能：Psi/Delta、N/C/S、R/T等光譜 4、分析光譜380-1000nm(可擴至210-1650nm) 5、單次測量時間：0.5-5s 6、重復性測量精度：0.01nm 7、光斑大小：大光斑2-3mm,微光斑200μm 8、入射角調節方式：手動變角 9、入射角范圍：55-75°(5°步進),90° 10、找焦方式：手動找焦 11、Mapping行程：不支持 12、支持樣件尺寸：大至180mm
可選配件	1	溫控臺
	2	Mapping擴展模塊
	3	真空泵
	4	透射吸附組件

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SE-VM光譜橢偏儀

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